太陽能作為應用廣無排放無噪聲的環保能源在近些年迎來快速發展而在各類型的太陽能電池及太陽能充電系統中多會鍍一層透明的ITO導電薄膜其鍍膜厚度對電池片的導電性能有著非常重要的影響因而需要對鍍膜厚度進行檢測與管控

由于ITO膜具有一定的透光性而硅基板具有較強的反射率會對依賴反射光信號進行圖像重建的光學輪廓儀造成信號干擾導致ITO膜厚圖像重建失真因此考慮采用接觸式輪廓儀對ITO膜厚進行測量由于其厚度范圍從十幾納米到幾百納米考慮到測量的同時不損傷樣件本身因而采用具有超微力可調和亞納米級分辨率的臺階儀最為合適

臺階儀是干什么的在太陽能光伏行業能測什么

臺階儀是一種常用的膜厚測量儀器它是利用光學干涉原理通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度具有測量精度高測量速度快適用范圍廣等優點它可以測量各種材料的膜層厚度包括金屬陶瓷塑料等

CP系列臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀其采用LVDC電容傳感器具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電薄膜厚度的測量上具有很強的優勢

針對測量ITO導電薄膜的應用場景CP200臺階儀提供如下便捷功能

1）結合了360°旋轉臺的全電動載物臺能夠快速定位到測量標志位

2）對于批量樣件提供自定義多區域測量功能實現一鍵多點位測量

3）提供SPC統計分析功能直觀分析測量數值變化趨勢