測量條件

注意事項

測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算但在特殊情況下若罐低為凹型或錐形當物位低于此點時無法進行測量

若介質為低介電常數當其處于低液位時罐低可見此時為保證測量精度建議將零點定在低高度為C 的位置

理論上測量達到天線尖端的位置是可能的但是考慮到腐蝕及粘附的影響測量范圍的終值應距離天線的尖端至少100mm

對于過溢保護可定義一段安全距離附加在盲區上

最p小測量范圍與天線有關

隨濃度不同泡沫既可以吸收微波又可以將其反射但在一定的條件下是可以進行測量的

雷達物位計是一種先進的雷達式的物位測量儀表其中可測量的最q大的距離可以達到70米天線被進一步優化處理新型的快速微處理器可以進行更高速率的信號分析處理使得儀表適用于固體材料在運行的過程中會遇到容器或是強粉塵容易結晶和結露相互結合

目前工業的高速發展同時也是為儀表行業迎來了新的發展春天其中雷達料位計在物位計市場中是占據著主體的地位與之間的雷達物位計的市場份額是有很大的區別在當今的社會中隨著技術的不斷發展進步雷達物位計的性能已經是獲得了很高的提升越來越多的用戶也是被這些高性價比的優點所吸引

到目前為止雷達物位計的應用范圍是非常的廣泛其中類型也是多種多樣如根據辦公的形式來區分的話是可以把雷達物位計分成兩種類型一種是曲直接觸的物位計另外一種是接觸式的物位計非接觸式的雷達物位計主要是通過桿式接收天線以及喇叭來收發微波信號而運用這種物位計的好處就是不必與媒介接觸所運用的形式是比其他的要靈活

從另外一方面來說非接觸的物位計的安裝非常的簡便所需要的保護量非常的少在運用的是不會受到遭受倉內的粉塵溫度的影響并是能夠間接的增長了物位計的勘測的性能由于非接觸式的雷達物位計是近年來發展的最快的一種勘測攝譜儀因此它是與接觸式雷達物位計是有著明顯的區別

運用雷達物位計可以用于對液體漿料等媒介的勘測它的溫度壓力適合力是很強的雷達物位計認為合適而使用額微波勘測的辦法它可以在工業品波段范圍內運用這種物位計值當推廣運用

脈沖雷達物位計主要采用高頻窄脈沖對微波源信號進行調制它也能測量界面只要上層介質的介電常數低于下層介質而大多數經濟型的脈沖微波物位計都采用5.8GHz或6.3GHz的微波頻率其輻射角較大約30°容易在容器壁或內部構件上產生干擾回波雖然加大喇叭天線尺寸可稍微減少發射角度但體積增大使用不便

與脈沖雷達物位計相比調頻連續波雷達天線發射的微波是頻率波線性調制的連續波當回波被天線接收到時天線發射頻率已經改變于是通過測量雷達波往返信號的頻譜而非雷達波的往返時間進行物位測量